Conductive contact for inspection, and semiconductor inspecting device
WO2017141706
Art A1
24. August 2017
Anmelder: NHK Spring Co., Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017141706
- Aktenzeichen
- EP17752969
- Anmeldetag
- 1. Februar 2017
- Veröffentlichung
- 24. August 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R1/067
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NHK Spring Co., Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
NHK Spring
Japanischer Automobilzulieferer mit Sitz in Yokohama, spezialisiert auf Federungssysteme, Sitzkomponenten und Festplattenaufhängungen.
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