Method and device for calibrating an automated test equipment
WO2017144087
Art A1
31. August 2017
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017144087
- Aktenzeichen
- EP16706175
- Anmeldetag
- 23. Februar 2016
- Veröffentlichung
- 31. August 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/319G01R31/3193G01R35/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
610 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.