Observation method using compound microscope having inverted optical microscope and atomic force microscope, and program and compound microscope for carrying out observation method
WO2017145381
Art A1
31. August 2017
Anmelder: Olympus Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017145381
- Aktenzeichen
- EP16891538
- Anmeldetag
- 26. Februar 2016
- Veröffentlichung
- 31. August 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01Q30/02G02B21/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Olympus Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Olympus
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Olympus ist auf Medizintechnik spezialisiert, insbesondere Endoskopie- und Bildgebungssysteme, sowie auf wissenschaftliche Instrumente und Präzisionsoptik.
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