Abnormality diagnosing device and abnormality diagnosing method
WO2017145687
Art A1
31. August 2017
Anmelder: NTN Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017145687
- Aktenzeichen
- EP17756129
- Anmeldetag
- 2. Februar 2017
- Veröffentlichung
- 31. August 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01M13/04F03D80/00F16C19/52
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NTN Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
NTN
Japanischer Hersteller von Wälzlagern mit Sitz in Osaka. NTN entwickelt Kugellager, Rollenlager und Antriebswellen für Automobil-, Maschinenbau- und Industrieanwendungen.
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