Abnormality diagnosing device and abnormality diagnosing method

WO2017145687 Art A1 31. August 2017

Anmelder: NTN Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2017145687
Aktenzeichen
EP17756129
Anmeldetag
2. Februar 2017
Veröffentlichung
31. August 2017
Rechtsraum
WO
IPC
G01M13/04F03D80/00F16C19/52
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
NTN Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 NTN

Japanischer Hersteller von Wälzlagern mit Sitz in Osaka. NTN entwickelt Kugellager, Rollenlager und Antriebswellen für Automobil-, Maschinenbau- und Industrieanwendungen.

3.646 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen