Semiconductor device and method for manufacturing same
WO2017150080
Art A1
8. September 2017
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017150080
- Aktenzeichen
- EP17759551
- Anmeldetag
- 6. Februar 2017
- Veröffentlichung
- 8. September 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/3205H01L21/768H01L23/522
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
610 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.