Trim method for patterning during various stages of an integration scheme
WO2017151622
Art A1
8. September 2017
Anmelder: Tokyo Electron Limited 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017151622
- Aktenzeichen
- EP17760616
- Anmeldetag
- 28. Februar 2017
- Veröffentlichung
- 8. September 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/027H01L21/768H01L21/3213
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tokyo Electron Limited
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tokyo Electron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.
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