Multilayer reflector, method of manufacturing a multilayer reflector and lithographic apparatus
WO2017153152
Art A1
14. September 2017
Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017153152
- Aktenzeichen
- EP17705639
- Anmeldetag
- 17. Februar 2017
- Veröffentlichung
- 14. September 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/20G03F1/24G02B7/18
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML Netherlands B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
3.336 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.