Dielectric constant microscope and method of observing organic specimen

WO2017154936 Art A1 14. September 2017

Anmelder: National Institute Of Advanced Industrial Science 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017154936
Aktenzeichen: EP17763276
Anmeldetag: 7. März 2017
Veröffentlichung: 14. September 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G01N27/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: National Institute Of Advanced Industrial Science
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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