Sample capture device, analysis apparatus including sample capture device, and method for producing sample capture device

WO2017154990 Art A1 14. September 2017

Anmelder: National University Corporation Nagoya University 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017154990
Aktenzeichen: EP17763330
Anmeldetag: 8. März 2017
Veröffentlichung: 14. September 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G01N1/22

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: National University Corporation Nagoya University
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National University Corporation Nagoya University

Japanische staatliche Universität mit umfangreicher Forschung in Naturwissenschaften, Technik und Medizin, unter anderem bekannt für Arbeiten zu LED-Technologie. Trägerin zahlreicher Patente aus Universitätsforschung in Japan.

702 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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