Object detection system, abnormality determination method, and program
WO2017158951
Art A1
21. September 2017
Anmelder: Omron Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017158951
- Aktenzeichen
- EP16894568
- Anmeldetag
- 6. Dezember 2016
- Veröffentlichung
- 21. September 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01S7/497G08G1/16
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Omron Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Omron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.
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