Integrated circuit and method for detecting a stress condition in the integrated circuit

WO2017160519 Art A1 21. September 2017

Anmelder: Allegro MicroSystems, LLC 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017160519
Aktenzeichen: EP17711948
Anmeldetag: 6. März 2017
Veröffentlichung: 21. September 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G01D3/08G01D5/14G01D5/244G01R33/09

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Allegro MicroSystems, LLC
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Allegro MicroSystems

US-amerikanischer Halbleiterhersteller, spezialisiert auf Magnetsensoren und Leistungshalbleiter für Automobil- und Industrieanwendungen wie Motorsteuerung und Positionserfassung.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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