Inspection device, inspection apparatus and inspection method

WO2017169715 Art A1 5. Oktober 2017

Anmelder: FUJIFILM Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017169715
Aktenzeichen: EP17774259
Anmeldetag: 14. März 2017
Veröffentlichung: 5. Oktober 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G01N33/543G01N21/64G01N21/78G01N33/53

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: FUJIFILM Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fujifilm

Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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