Active light sensitive or radiation sensitive resin composition, resist film, pattern forming method, method for manufacturing electronic device, mask blank with resist film, and pattern forming method for mask blank with resist film
WO2017169746
Art A1
5. Oktober 2017
Anmelder: Fujifilm Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017169746
- Aktenzeichen
- EP17774290
- Anmeldetag
- 14. März 2017
- Veröffentlichung
- 5. Oktober 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/004C08F12/24G03F7/038G03F7/039G03F7/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Fujifilm Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fujifilm
Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.
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