Spectral curve acquisition device, concrete measurement device, spectral curve acquisition method, and concrete measurement method
WO2017170975
Art A1
5. Oktober 2017
Anmelder: Topcon Corporation, Maeda Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017170975
- Aktenzeichen
- EP17775508
- Anmeldetag
- 24. März 2017
- Veröffentlichung
- 5. Oktober 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/27G01J3/02G01J3/42
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Topcon Corporation
Maeda Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Topcon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.
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