Graphene non-destructive inspection method

WO2017171195 Art A1 5. Oktober 2017

Anmelder: Korea Electronics Technology Institute 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017171195
Aktenzeichen: EP16897215
Anmeldetag: 2. Dezember 2016
Veröffentlichung: 5. Oktober 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/88G01Q60/10G03H1/24

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Korea Electronics Technology Institute
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Korea Electronics Technology Institute

Staatlich gefördertes südkoreanisches Forschungsinstitut für Elektronik- und IT-Technologien mit Sitz in Seongnam, das Unternehmen bei Entwicklung und Kommerzialisierung neuer Technologien unterstützt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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