System and method for imaging a surface defect on an object

WO2017171651 Art A1 5. Oktober 2017

Anmelder: Agency for Science, Technology and Research 🇸🇬

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017171651
Aktenzeichen: EP17776006
Anmeldetag: 30. März 2017
Veröffentlichung: 5. Oktober 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/88G01B11/30

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Agency for Science, Technology and Research
Land: 🇸🇬 Singapur

🇸🇬 Agency for Science, Technology and Research

Staatliche Forschungsorganisation Singapurs (bekannt als A*STAR), zuständig für angewandte Forschung in Biomedizin, Physik und Ingenieurwissenschaften. Fördert Technologietransfer zwischen Wissenschaft und Industrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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