Systems, methods, and apparatuses for implementing critical dimension (cd) and phase calibration of alternating phase shift masks (apsm) and chromeless phase lithography (cpl) masks for modeling
WO2017171880
Art A1
5. Oktober 2017
Anmelder: INTEL Corporation, Tien, Ming-Chun, Jeong, Seongtae, Grunes, Harsha 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017171880
- Aktenzeichen
- EP16897418
- Anmeldetag
- 1. April 2016
- Veröffentlichung
- 5. Oktober 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/027G03F7/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- INTEL Corporation
Tien, Ming-Chun
Jeong, Seongtae
Grunes, Harsha - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Intel
US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kalifornien. Entwickelt und produziert Prozessoren, Chipsätze sowie weitere Halbleiterkomponenten für Computer, Server und eingebettete Systeme.
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