Controlling dry etch process characteristics using waferless dry clean optical emission spectroscopy

WO2017172536 Art A1 5. Oktober 2017

Anmelder: Tokyo Electron Limited 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2017172536
Aktenzeichen
EP17776361
Anmeldetag
24. März 2017
Veröffentlichung
5. Oktober 2017
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/3065H01L21/66H01L21/02H01L21/67H05H1/46
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Tokyo Electron Limited
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Tokyo Electron

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.

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