Electrical characteristic inspection method

WO2017179390 Art A1 19. Oktober 2017

Anmelder: Dexerials Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017179390
Aktenzeichen: EP17782208
Anmeldetag: 23. März 2017
Veröffentlichung: 19. Oktober 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28G01R1/067G01R1/073G01R31/26H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Dexerials Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Dexerials

Japanischer Hersteller elektronischer Komponenten und optischer Materialien mit Sitz in Tokio, 2012 als Ausgründung aus Sony Chemical hervorgegangen.

964 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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