Charged particle microscope and sample image pickup method

WO2017183168 Art A1 26. Oktober 2017

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017183168
Aktenzeichen: EP16899440
Anmeldetag: 22. April 2016
Veröffentlichung: 26. Oktober 2017
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/18H01J37/16H01J37/244

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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