Sample inspection device

WO2017183755 Art A1 26. Oktober 2017

Anmelder: Seoul National University R&DB Foundation 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017183755
Aktenzeichen: EP16899524
Anmeldetag: 29. April 2016
Veröffentlichung: 26. Oktober 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/63G02B5/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Seoul National University R&DB Foundation
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Seoul National University R&DB Foundation

Technologietransfer- und Forschungsförderungsstiftung der Seoul National University in Südkorea. Sie verwaltet und vermarktet die an der Universität entstandenen Forschungsergebnisse und Patente.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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