Micro-and nano-structured semiconductor material, production method and use as a calibration standard

WO2017187002 Art A1 2. November 2017

Anmelder: Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) 🇪🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017187002
Aktenzeichen: EP17788872
Anmeldetag: 28. April 2017
Veröffentlichung: 2. November 2017
Rechtsraum: WO
IPC: H01L51/46B23K26/066G01Q40/02

Offizieller Volltext

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Anmelder

Firma: Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Land: 🇪🇸 Spanien

🇪🇸 Consejo Superior de Investigaciones Científicas

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