Increase data transfer throughput by enabling dynamic jtag test mode entry and sharing of all jtag pins

WO2017190124 Art A1 2. November 2017

Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2017190124
Aktenzeichen
EP17790632
Anmeldetag
1. Mai 2017
Veröffentlichung
2. November 2017
Rechtsraum
WO
IPC
G06F11/267G01R31/3185
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Texas Instruments Incorporated
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Texas Instruments

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.

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