High Performance Waveguide Refractometer

WO2017197306 Art A1 16. November 2017

Anmelder: SRI International 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017197306
Aktenzeichen: EP17796964
Anmeldetag: 12. Mai 2017
Veröffentlichung: 16. November 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/00G01J3/00G01J3/40G02B6/00B64C5/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: SRI International
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 SRI International

Der Anmelder ist ein US-amerikanisches gemeinnütziges Forschungsinstitut mit Sitz in Kalifornien, hervorgegangen aus dem Stanford Research Institute. Das Patentportfolio ist breit gestreut über Medizintechnik, Software, Halbleiterbauelemente, Messtechnik und Nachrichtentechnik. Anmeldungen laufen seit dem Jahr 2000 durchgehend fort.

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Fachgebiete

Luft- & Raumfahrttechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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