Defective image classification apparatus and defective image classification method

WO2017203572 Art A1 30. November 2017

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017203572
Aktenzeichen: EP16903054
Anmeldetag: 23. Mai 2016
Veröffentlichung: 30. November 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/956G01N23/225

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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