High-Frequency-Probe Position Correction Technology

WO2017203876 Art A1 30. November 2017

Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017203876
Aktenzeichen: EP17802475
Anmeldetag: 12. April 2017
Veröffentlichung: 30. November 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G01R27/28G01R1/073G01R31/28G01R35/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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