Non-Contact Temperature Measurement By Dual-Wavelength Shift in Brewster's Angle
WO2017205528
Art A1
30. November 2017
Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2017205528
- Aktenzeichen
- EP17803521
- Anmeldetag
- 24. Mai 2017
- Veröffentlichung
- 30. November 2017
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01J5/08G01J3/10G01J3/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Applied Materials, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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