X-ray phase difference imaging system, x-ray phase difference imaging apparatus, and x-ray phase difference imaging method

WO2017212687 Art A1 14. Dezember 2017

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017212687
Aktenzeichen: EP17809871
Anmeldetag: 17. Februar 2017
Veröffentlichung: 14. Dezember 2017
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/20G01N23/04

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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