Method for detecting foreign material, and apparatus and system therefor

WO2017217663 Art A1 21. Dezember 2017

Anmelder: LG Innotek Co., Ltd. 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2017217663
Aktenzeichen: EP17813488
Anmeldetag: 18. Mai 2017
Veröffentlichung: 21. Dezember 2017
Rechtsraum: WO
IPC: H02J50/60H02J50/80H02J7/02G01V3/10H02J5/00G01N27/20

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: LG Innotek Co., Ltd.
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 LG Innotek

Südkoreanisches Elektronikunternehmen mit Sitz in Seoul, Tochtergesellschaft der LG-Gruppe. Entwickelt Komponenten für Kamera- und Optikmodule, Halbleiterträger, Motoren und Materialien für Mobilgeräte, Fahrzeuge und Displays.

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Fachgebiete

Elektrische Energietechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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