Sample holder for surface and/or cross-section microscopy analysis of a solid sample
Anmelder: Total S.A., Electricité de France (EDF), Centre National de la Recherche Scientifique, Ecole Polytechnique, Institut Photovoltaïque d'Ile de France - IPVF 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2018002047
- Aktenzeichen
- EP17733812
- Anmeldetag
- 27. Juni 2017
- Veröffentlichung
- 4. Januar 2018
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01Q30/20G02B21/34H01J37/20H02S50/10
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Total S.A.
Electricité de France (EDF)
Centre National de la Recherche Scientifique
Ecole Polytechnique
Institut Photovoltaïque d'Ile de France - IPVF - Land
- 🇫🇷 Frankreich
Französische staatliche Forschungsorganisation mit Sitz in Paris. Betreibt Grundlagen- und angewandte Forschung in nahezu allen wissenschaftlichen Disziplinen über zahlreiche Institute und Labore.
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Die Ecole Polytechnique ist eine französische Ingenieurhochschule bei Paris mit starker naturwissenschaftlicher Forschung. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Mess- und Prüftechnik, ergänzt um Elektronik, Metallurgie und Optik. Anmeldungen laufen durchgehend von 2000 bis in die Gegenwart, unter anderem zu Photovoltaik.
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