Sample holder for surface and/or cross-section microscopy analysis of a solid sample

WO2018002047 Art A1 4. Januar 2018

Anmelder: Total S.A., Electricité de France (EDF), Centre National de la Recherche Scientifique, Ecole Polytechnique, Institut Photovoltaïque d'Ile de France - IPVF 🇫🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2018002047
Aktenzeichen
EP17733812
Anmeldetag
27. Juni 2017
Veröffentlichung
4. Januar 2018
Rechtsraum
WO
IPC
G01Q30/20G02B21/34H01J37/20H02S50/10
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Total S.A.
Electricité de France (EDF)
Centre National de la Recherche Scientifique
Ecole Polytechnique
Institut Photovoltaïque d'Ile de France - IPVF
Land
🇫🇷 Frankreich
🇫🇷 Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

Französische staatliche Forschungsorganisation mit Sitz in Paris. Betreibt Grundlagen- und angewandte Forschung in nahezu allen wissenschaftlichen Disziplinen über zahlreiche Institute und Labore.

13.083 Patente in unserer Datenbank

🇫🇷 Ecole Polytechnique

Die Ecole Polytechnique ist eine französische Ingenieurhochschule bei Paris mit starker naturwissenschaftlicher Forschung. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Mess- und Prüftechnik, ergänzt um Elektronik, Metallurgie und Optik. Anmeldungen laufen durchgehend von 2000 bis in die Gegenwart, unter anderem zu Photovoltaik.

350 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen