X-ray generation device and analysis apparatus provided with same
WO2018002977
Art A1
4. Januar 2018
Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2018002977
- Aktenzeichen
- EP16907211
- Anmeldetag
- 27. Juni 2016
- Veröffentlichung
- 4. Januar 2018
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H05G1/34
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Shimadzu Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Shimadzu
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.
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