Analysis device, analysis method, analysis program and display device

WO2018003063 Art A1 4. Januar 2018

Anmelder: Nikon Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018003063
Aktenzeichen: EP16907296
Anmeldetag: 30. Juni 2016
Veröffentlichung: 4. Januar 2018
Rechtsraum: WO
IPC: C12M1/34G01N33/48

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Nikon Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Nikon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.

3.320 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Pharma & Biotechnologie

Vertreten von