Spin-based electrometry with solid-state defects

WO2018005627 Art A1 4. Januar 2018

Anmelder: Massachusetts Institute of Technology, The Texas A&M University System 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018005627
Aktenzeichen: EP17821139
Anmeldetag: 28. Juni 2017
Veröffentlichung: 4. Januar 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G01R29/12A61B5/04G01N24/10G01N33/483G01R29/08G01R33/02

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Massachusetts Institute of Technology
The Texas A&M University System
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Massachusetts Institute of Technology

US-amerikanische Universität mit Sitz in Cambridge, Massachusetts, eine der weltweit führenden Forschungseinrichtungen. Aktiv in nahezu allen technischen und naturwissenschaftlichen Feldern, darunter Informatik, Ingenieurwesen, Materialwissenschaften und Biotechnologie.

636 Patente in unserer Datenbank

🇺🇸 Texas A&M University System

Verbund staatlicher Hochschulen und Forschungseinrichtungen in Texas, USA, mit breiter Forschungstätigkeit unter anderem in Agrarwissenschaft, Technik und Medizin.

581 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von