X-ray inspecting device, x-ray thin film inspecting method, and method for measuring rocking curve

WO2018012527 Art A1 18. Januar 2018

Anmelder: Rigaku Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018012527
Aktenzeichen: EP17827654
Anmeldetag: 12. Juli 2017
Veröffentlichung: 18. Januar 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/207G21K1/06G21K5/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Rigaku Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Rigaku

Rigaku ist ein japanischer Hersteller wissenschaftlicher Analysegeräte, insbesondere für Röntgendiffraktion und Röntgenfluoreszenz. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiter- und Elektrotechnik-Anmeldungen. Der Anmeldezeitraum reicht von 2000 bis 2025.

281 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Elektrische Energietechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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