Rugged, Single Crystal Wide-Band-Gap-Material-Scanning-Tunneling Microscopy/lithography Tips

WO2018022154 Art A2 1. Februar 2018

Anmelder: STC.UNM 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018022154
Aktenzeichen: EP17834896
Anmeldetag: 24. April 2017
Veröffentlichung: 1. Februar 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G01Q70/08G01Q70/16B82Y35/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: STC.UNM
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Stc.unm

STC.UNM ist die Technologietransfergesellschaft der University of New Mexico in den USA. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik, Pharma-/Biotechnologie und Mess-, Prüf- sowie Halbleitertechnik. Die Anmeldungen von 2001 bis 2020 reichen von Isotopentrennverfahren bis zur elektrischen Impedanzspektroskopie.

299 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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