Measuring device, exposure device, and method for manufacturing article

WO2018025515 Art A1 8. Februar 2018

Anmelder: Canon Kabushiki Kaisha 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018025515
Aktenzeichen: EP17836622
Anmeldetag: 15. Juni 2017
Veröffentlichung: 8. Februar 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G03F7/20G01B11/02G01B11/06G01B11/30G03F9/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Canon Kabushiki Kaisha
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Canon

Japanischer Konzern mit Sitz in Tokio, der Kameras, Objektive, Drucker, Kopiergeräte sowie optische und medizinische Bildgebungstechnik entwickelt und herstellt.

19.202 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

Vertreten von