Method and computer program product for controlling the positioning of patterns on a substrate in a manufacturing process
WO2018026373
Art A1
8. Februar 2018
Anmelder: KLA-Tencor Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2018026373
- Aktenzeichen
- EP16911777
- Anmeldetag
- 4. August 2016
- Veröffentlichung
- 8. Februar 2018
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/027H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- KLA-Tencor Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
KLA Corporation
US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.
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