Method for error correction in scanning probe microscopy

WO2018031174 Art A2 15. Februar 2018

Anmelder: University of Florida Research Foundation, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018031174
Aktenzeichen: EP17839980
Anmeldetag: 12. Juli 2017
Veröffentlichung: 15. Februar 2018
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/02H04N5/222

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: University of Florida Research Foundation, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 University of Florida Research Foundation

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Nachrichtentechnik & Telekommunikation

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