Defect inspection device, defect inspection method, and program

WO2018034056 Art A1 22. Februar 2018

Anmelder: Fujifilm Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018034056
Aktenzeichen: EP17841284
Anmeldetag: 20. Juni 2017
Veröffentlichung: 22. Februar 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/18G01N23/04G01N23/203

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Fujifilm Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fujifilm

Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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