Temperature sensor for end point detection during plasma enhanced chemical vapor deposition chamber clean
WO2018035418
Art A1
22. Februar 2018
Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2018035418
- Aktenzeichen
- EP17842183
- Anmeldetag
- 18. August 2017
- Veröffentlichung
- 22. Februar 2018
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- C23C16/44C23C16/52C23C16/50C23C16/455C23C16/458
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Applied Materials, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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