Monitoring of polishing pad thickness for chemical mechanical polishing

WO2018039537 Art A1 1. März 2018

Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2018039537
Aktenzeichen
EP17844475
Anmeldetag
25. August 2017
Veröffentlichung
1. März 2018
Rechtsraum
WO
IPC
B24B37/005B24B49/10B24B49/12
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Applied Materials, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Applied Materials

US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.

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