Mechanical switch testing method and testing device therefor

WO2018042516 Art A1 8. März 2018

Anmelder: Kabushiki Kaisha Toshiba 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018042516
Aktenzeichen: EP16915077
Anmeldetag: 30. August 2016
Veröffentlichung: 8. März 2018
Rechtsraum: WO
IPC: H01H33/00G01R31/327G01R31/333

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Kabushiki Kaisha Toshiba
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Toshiba

Japanischer Konzern, der Elektronik, Halbleiter, Energie- und Infrastrukturtechnik sowie Industrieanlagen entwickelt und herstellt.

13.649 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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