Probe and production method therefor

WO2018043173 Art A1 8. März 2018

Anmelder: The University Of Tokyo 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018043173
Aktenzeichen: EP17846181
Anmeldetag: 21. August 2017
Veröffentlichung: 8. März 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G01R1/06G01R33/32H01L29/82

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: The University Of Tokyo
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 University of Tokyo

Japanische Universität mit Sitz in Tokio, eine der führenden Forschungsuniversitäten Asiens. Die Universität ist in nahezu allen wissenschaftlichen und technischen Disziplinen aktiv, darunter Materialwissenschaften, Elektrotechnik, Biotechnologie und Medizin.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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