Optical measurement device, optical measurement method, and stress inspection method

WO2018043438 Art A1 8. März 2018

Anmelder: Keio University 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018043438
Aktenzeichen: EP17846443
Anmeldetag: 28. August 2017
Veröffentlichung: 8. März 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/23G01N21/27G01N21/3581

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Keio University
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Keio University

Die Keio University ist eine private Universität in Tokio, Japan, die in zahlreichen Fachrichtungen von Wirtschaft bis Ingenieurwissenschaften lehrt und forscht.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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