Diffraction grating for x-ray phase difference image capture device, x-ray emission unit for x-ray phase difference image capture device, and x-ray phase difference image capture device

WO2018055867 Art A1 29. März 2018

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018055867
Aktenzeichen: EP17852648
Anmeldetag: 30. Juni 2017
Veröffentlichung: 29. März 2018
Rechtsraum: WO
IPC: A61B6/00A61B6/06G01N23/04G01T7/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

2.214 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von