Simultaneous overlapping order spectral imager and method

WO2018057093 Art A1 29. März 2018

Anmelder: Raytheon Company 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018057093
Aktenzeichen: EP17754507
Anmeldetag: 19. Juli 2017
Veröffentlichung: 29. März 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G01J3/18G01J3/28G01J3/12

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Raytheon Company
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Raytheon Company

US-amerikanisches Rüstungs- und Technologieunternehmen mit Sitz in Massachusetts, heute Teil von RTX Corporation. Entwickelt Verteidigungssysteme, Radartechnik, Flugabwehr, Sensorik und Luftfahrtelektronik.

3.397 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von