Determination method and device, program, information recording medium, exposing device, layout information providing method, layout method, mark detection method, exposing method, and method for producing device
WO2018061811
Art A1
5. April 2018
Anmelder: Nikon Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2018061811
- Aktenzeichen
- EP17855767
- Anmeldetag
- 15. September 2017
- Veröffentlichung
- 5. April 2018
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/20G03F7/22H01L21/68
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Nikon Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nikon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
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