Selecting a set of locations associated with a measurement or feature on a substrate

WO2018069015 Art A1 19. April 2018

Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2018069015
Aktenzeichen
EP17771751
Anmeldetag
21. September 2017
Veröffentlichung
19. April 2018
Rechtsraum
WO
IPC
G03F9/02G03F7/207G03F9/00G03F7/00G03F7/20
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
ASML Netherlands B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

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