Method and apparatus for detecting and removing defective integrated circuit packages

WO2018072183 Art A1 26. April 2018

Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018072183
Aktenzeichen: EP16919444
Anmeldetag: 20. Oktober 2016
Veröffentlichung: 26. April 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G11C29/56

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Texas Instruments Incorporated
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Texas Instruments

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.

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Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung

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