Damage prediction method, program, and semiconductor processing system
WO2018074087
Art A1
26. April 2018
Anmelder: Sony Semiconductor Solutions Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2018074087
- Aktenzeichen
- EP17861319
- Anmeldetag
- 6. September 2017
- Veröffentlichung
- 26. April 2018
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/3065H01L21/02H05H1/00H05H1/46
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Sony Semiconductor Solutions Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Sony Semiconductor Solutions
Japanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Atsugi, eine Tochtergesellschaft der Sony Group. Das Unternehmen entwickelt Bildsensoren, CMOS-Sensoren und Halbleiterlösungen für Kameras, Smartphones, Automobile und industrielle Anwendungen.
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